摘要：本发明涉及一种电子元件漏件检测方法和系统，其中，所述方法包括如下步骤：对获取的电子元件的电路板的模板图像和测试图像分别进行边缘图像提取，得到第一边缘图像和第二边缘图像；对所述第一边缘图像和第二边缘图像分别进行分区，并对各个分区上的第一边缘图像和第二边缘图像进行特征提取，得到模板图像的第一特征参数和测试图像的第二特征参数；根据第一特征参数和第二特征参数计算所述模板图像与测试图像的相似度值；根据所述相似度值对电路板进行电子元件漏件检测。上述技术方案，通过有效地提高了电子元件漏件检测的准确率，保证了检测后的电路板的质量。
- 专利类型发明专利
- 申请人广州视源电子科技股份有限公司;
- 发明人林建民;
- 地址510663 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城科珠路192号4楼
- 申请号CN201610251817.5
- 申请时间2016年04月20日
- 申请公布号CN105957059A
- 申请公布时间2016年09月21日
- 分类号G06T7/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
