摘要：本发明公开了一种荧光检测仪器的校准方法,用于荧光检测仪器出厂前的校准，将荧光检测仪器的光源强度检测和信号检测模块参数校准分两步独立进行，光源强度检测适用光强测量仪测量光强度，信号检测模块参数校准使用标准光源作为检测光源；本发明采用现有的经过计量确定的标准设备进行定标，具有标准可追溯性和确定性，能适合大批量和精确测量；同时本发明方法还可用来做仪器的质控，检测光源是否会运行时间长衰减，如果光源衰减可以更换光源，本发明提高了量产中荧光检测仪器的一致性。
- 专利类型发明专利
- 申请人深圳市华科瑞科技有限公司;
- 发明人丁卫东;
- 地址518019 广东省深圳市罗湖区太白路1038号安琪大厦三楼301
- 申请号CN201610220080.0
- 申请时间2016年04月11日
- 申请公布号CN105928911A
- 申请公布时间2016年09月07日
- 分类号G01N21/64(2006.01)I;
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