摘要：本发明公开了一种基于FPGA的NAND?Flash容错方法，包括Flash坏块检测、坏块管理和动态查表。通过Flash写标志位的状态和读写内容是否相同来检测坏块。利用坏块管理算法对检测到的好、坏块地址进行管理，并建立地址映射表。FPGA通过动态查表的方式对Flash进行写入、读取和擦除操作，大大提高了数据存取的准确性和高效性。本方法能直接提高Flash空间利用率，使其整体性能和处理速度得到重要的保障，对新一代大容量NAND?Flash的应用发展具有参考意义。
- 专利类型发明专利
- 申请人浙江大学;
- 发明人张晓峰;史治国;陈积明;
- 地址310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
- 申请号CN201610173425.1
- 申请时间2016年03月24日
- 申请公布号CN105843749A
- 申请公布时间2016年08月10日
- 分类号G06F12/02(2006.01)I;G06F12/06(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
