摘要：本发明公开了一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法。基于硅基液晶在同样的偏置电压下，对不同波长入射光有不同的相位调制的特性，对在硅基液晶波长工作范围内的光信号实现分析与监测，并能在入射光波长未知的条件下，对该波长进行测量，并能随着相位调制精度的提高，提高波长的分辨精度。本发明元件少，系统结构简单紧凑，对光路的准直要求不高，无需苛刻光路的耦合与复杂操作就能进行波长的分辨，并且有着与入射光偏振态无关的特性，在分辨出波长的同时，还能对入射光束的偏振态进行测量，适用范围更广。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人付松年;崔静娴;洪志坤;刘德明;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201610145861.8
- 申请时间2016年03月15日
- 申请公布号CN105841825A
- 申请公布时间2016年08月10日
- 分类号G01J9/00(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
