摘要：本发明提供了一种基于紫外光激发的全光谱光致发光光谱检测系统，所述系统包括探测器、影像校正光谱仪、入射狭缝、汇聚透镜、瑞利散射滤光片、聚焦物镜、样品以及激光器，所述的系统还包括设置在瑞利散射滤光片与聚焦物镜之间的硅片。所述的硅片包括第一部件、第二部件以及第三部件。在本发明的优选实施方式中，第一部件为圆形环，第二部件沿所述的圆形环的径向延伸，且第二部件的两端与圆形环相接，第三部件设置在第二部件的中心。通过由采用特殊工艺制成的硅片替换现有光致发光光谱检测系统中的二向色镜，实现了荧光的光谱范围不受任何限制，全波段通光，克服了现有技术中的光致发光光谱检测系统无法检测更宽波段的技术问题。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京卓立汉光仪器有限公司;
- 发明人张恒;
- 地址101102 北京市中关村科技园区通州园金桥产业基地环科中路16号，联东U谷中试区68号B座
- 申请号CN201610194828.4
- 申请时间2016年03月31日
- 申请公布号CN105806817A
- 申请公布时间2016年07月27日
- 分类号G01N21/64(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
