摘要：一种RTK定位精度的预报方法及系统，获取电离层TEC预报信息；获取根据RTK定位精度信息及电离层TEC信息建立的RTK精度模型；所述RTK定位精度信息包括：时间、基线及RTK定位精度；所述电离层TEC信息包括：所述时间、所述基线及电离层TEC；根据所述电离层TEC预报信息及所述RTK精度模型，确定RTK预报精度。通过上述RTK定位精度的预报方法及系统，用户可以根据电离层TEC预报信息对RTK定位精度进行预测，得到预测结果，即待报时间的RTK预报精度，从而可根据预测结果作进一步处理。
- 专利类型发明专利
- 申请人广州市中海达测绘仪器有限公司;
- 发明人谢锡贤;方春水;罗泽彬;郭灿桦;廖少翔;
- 地址511400 广东省广州市番禺区东环街番禺大道北555号天安总部中心13号楼202房
- 申请号CN201510998676.9
- 申请时间2015年12月24日
- 申请公布号CN105785409A
- 申请公布时间2016年07月20日
- 分类号G01S19/41(2010.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
