摘要：本发明公开了一种基于探测器温度的红外图像非均匀性校正方法，通过图像增益校正系数和采集的均匀背景图像，计算探测器在不同探测器温度点下的偏置本底，进一步地，根据偏置本底和探测器当前工作温度的对应变化趋势以插值方法估算探测器在当前工作温度下的偏移校正参数，最后利用图像增益校正系数和偏移校正参数对红外图像进行两点校正。相应地，本发明还提出了一种对应的校正系统。本发明无需红外探测器温控系统及调零挡片，根据探测器在不同温度点下的偏置本底和当前探测器的温度及时有效地计算校正参数，在保证红外图像校正效果的同时，有效降低了算法复杂度，增加了实时性。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人梁琨;杨彩兰;周波;蔡骏;雷伟;樊启明;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201610102299.0
- 申请时间2016年02月24日
- 申请公布号CN105737990A
- 申请公布时间2016年07月06日
- 分类号G01J5/00(2006.01)I;
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