摘要：本发明公开了一种在粒度分析仪中降低随机系统噪声的方法，包括如下步骤：S11、获取引入系统噪声的光源功率谱密度分布；S22、基于所获取的光源功率谱密度分布，设置插值点频率及每一插值点频率所对应的幅值权重；S13、设置仿真参数，对每一插值点频率分别计算所对应的MIE矩阵，并将所获得的每一MIE矩阵叠加形成总的MIE矩阵，以用于和实测的光信号阵列进行拟合。还公开了一种在粒度分析仪中降低随机系统噪声的装置。将系统噪声考虑进入仿真模型的算法处理和数值计算过程中，可进一步提升来自粉末样品散射光的空间分辨率和灵敏度，降低系统噪声，据此拓展激光粒度仪测量系统的测量范围和精度，以进一步满足客户对实验或生产过程质量控制的需求。
- 专利类型发明专利
- 申请人珠海欧美克仪器有限公司;
- 发明人王鑫;蔡斌;
- 地址519085 广东省珠海市高新区唐家湾镇科技三路33号厂房第二层
- 申请号CN201610015492.0
- 申请时间2016年01月08日
- 申请公布号CN105675455A
- 申请公布时间2016年06月15日
- 分类号G01N15/02(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
