摘要：本发明公开了一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法，利用超声波穿过待测试样，再采集穿过试样后的底面回波，通过显示屏显示底面回波的波形，如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波，则确定待测试样为非单晶材料；反之则确定待测试样为单晶材料。本发明采用超声波穿过待测产品，通过观察超声波的反射波形，即可判断材料是否为单晶材料，这样便可显著提高现场产品检测效率，是一种经济适用的检测方法。本发明简单快捷、经济适用、检测效率高。
- 专利类型发明专利
- 申请人贵州大学;
- 发明人孙捷;王芹;黄碧芳;朱绍严;袁春;
- 地址550025 贵州省贵阳市花溪区贵州大学北校区科学技术处
- 申请号CN201510962768.1
- 申请时间2015年12月21日
- 申请公布号CN105548357A
- 申请公布时间2016年05月04日
- 分类号G01N29/04(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
