摘要：本发明属于光学检测领域，尤其涉及一种快速二次元光学测量装置，包括测量框架，测量框架的底部设有光源，待测样品位于光源上方，与光源相应的测量框架的上部设有多个用于采集待测样品图像的取像元件，多个取像元件可以同时对待测样品上相互垂直的两尺寸方向采集图像，取像元件连接图像处理元件，测量框架上还设有可对取像元件位置进行调节的取像元件调节机构，因而本发明测量装置可以根据待测样品的尺寸大小情况，将测量框架上部的取像元件调节到合适位置后，多个取像元件便可以同时对待测样品上相互垂直的两尺寸方向采集图像，然后由图像处理元件根据接收到的图像执行二次元的计算，提高了测量精度和测量效率，具有广阔的市场前景。
- 专利类型发明专利
- 申请人苏州精创光学仪器有限公司;
- 发明人唐翔;黄海瑞;陶金明;汪旭东;闫飞;彭卫军;杨晓宁;秦学琴;赵伟;
- 地址215334 江苏省苏州市昆山市开发区章基路189号1栋201
- 申请号CN201610110174.2
- 申请时间2016年02月29日
- 申请公布号CN105547156A
- 申请公布时间2016年05月04日
- 分类号G01B11/00(2006.01)I;
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