摘要：本发明提供了一种大颗粒物料的近红外光谱分析装置及方法，所述近红外光谱分析装置包括分析仪表；采样单元，所述采样单元用于采样待测样品，并送粉碎单元；粉碎单元，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，用于留样分析后的待测样品。本发明具有精度高等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技（杭州）股份有限公司;
- 发明人周新奇;韩双来;郭中原;杨伟伟;陈胜福;慎石磊;张丹;胡杰;吴键波;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN201511031439.1
- 申请时间2015年12月31日
- 申请公布号CN105445221A
- 申请公布时间2016年03月30日
- 分类号G01N21/359(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;
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京公网安备11010802043465号
