摘要：本发明涉及一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪。包括机械探针7，步进电机1，磁栅尺、底座6，在所述底座6的两端设有支架5，支架5的一端安装有步进电机1，在支架5的中间设置丝杠导轨2，步进电机1与丝杠导轨2连接，在丝杠导轨2上设置滑块3；所述磁栅尺为开放式，包括磁条8、磁头9；所述磁栅尺安装在所述滑块3的外表面，在所述滑块3上设置固定架4，所述探针7直接与磁条8固定在固定架4上，所述磁头9设置在滑块3上，所述磁头9与探针7相嵌合。本发明便于携带至实验现场，尤其对于很多不便于拆卸的平面平整度能够进行有效而便捷的测量；精度较高，无需人员读数或者其余高难度操作；自动化程度高，能够准确获得位置信息及该位置的平整度信息。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人张代林;朱鸿;左苏;刘阳;陈幼平;张冈;张兴;张湧正;
- 地址430074 湖北省武汉市珞喻路1037号
- 申请号CN201510826674.1
- 申请时间2015年11月25日
- 申请公布号CN105403142A
- 申请公布时间2016年03月16日
- 分类号G01B7/34(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
