摘要：本发明公开了一种镜像综合孔径辐射计图像反演方法，该方法包括根据MIAS阵列输出互相关值向量R和MIAS阵列的冲击响应矩阵G获得天线输出互相关值向量R的概率测度初始值β和亮温图像不同像素点Ti的概率测度初始值αi；计算后验概率的均值μ和后验概率的协方差Z，迭代更新β和α并判断天线输出互相关值向量R的概率测度更新值βnew和亮温Ti的概率测度更新值αnew是否同时收敛，若是则将最后一次迭代得到的μ＝βZG'R作为亮温图像T的估计值进行输出，获得亮温图像分布T，若否，则返回进一步计算μ和Z。本发明能够有效的降低获得最优模型的计算复杂度，自动选取最优模型参数进行亮温反演，是一种新型的镜像综合孔径亮温重建方法，可以更高效地重建原始场景的亮温图像。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人陈柯;胡孔勇;李青侠;桂良启;郎量;郭伟;靳榕;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510710219.5
- 申请时间2015年10月28日
- 申请公布号CN105353375A
- 申请公布时间2016年02月24日
- 分类号G01S13/90(2006.01)I;G01S7/295(2006.01)I;
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