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    XRF设备及其样品自动定位多点测试方法、装置

      摘要:本发明提供了一种XRF设备及其样品自动定位多点测试方法、装置。样品自动定位多点测试方法包括:获取待测样品在移动平台上的图像;显示所述图像;获取用户在显示的所述图像上选择的多个待测点;根据用户选择的所述至少一个待测点,控制所述移动平台运动以使所述待测点依次位于测试中心位置处。本发明特别适用于部分不均匀的样品,极大地改善了用户体验,并提高了测试效率。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人深圳市西凡谨顿科技有限公司;
    • 发明人胡中卫;邵波;
    • 地址518000 广东省深圳市南山区科丰路二号特发信息港大厦D栋五楼东侧2号
    • 申请号CN201510492908.3
    • 申请时间2015年08月12日
    • 申请公布号CN105158285A
    • 申请公布时间2015年12月16日
    • 分类号G01N23/223(2006.01)I;