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  • 教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN105044136A

    一种残余应力层深分布辅助测量装置及方法

      摘要:本发明公开了一种残余应力层深分布辅助测量装置,包括底部支撑装置、工件支撑装置、传感器支架及位移传感器,所述底部支撑装置包括底座、两导轨、伺服电机和滚珠丝杠机构,所述工件支撑装置包括连接板、V型块和工件限位机构;所述工件限位机构包括安装在连接板上的限位架及安装在限位架上的压紧装置,所述压紧装置位于V型块的上方;所述传感器支架安装在底座上,所述位移传感器上下位置可调整地安装在传感器支架上,所述位移传感器用于与V型块上的待测区域接触以检测待测区域的深度。本发明进行剥层和测量的整个过程自动控制,可操作性强,节约测试时间,测量精度高。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人华中科技大学;
    • 发明人杨文玉;何少杰;陈琪琳;黄坤;
    • 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
    • 申请号CN201510216926.9
    • 申请时间2015年04月29日
    • 申请公布号CN105044136A
    • 申请公布时间2015年11月11日
    • 分类号G01N23/20(2006.01)I;