摘要：本发明公开了一种提高磁致伸缩导波检测灵敏度的装置，以及利用该装置提高磁致伸缩导波检测灵敏度的方法，中心处理器控制信号发生器产生激励信号，通过功率放大器输入激励传感器，在待检测区域激励产生超声导波并沿轴向传播；经信号增强元件的反射，超声导波叠加增强后输入接收传感器，经信号预处理器输入到A/D转换器，转换成数字信号输入中心处理器；中心处理器通过对数字信号的分析，得出缺陷在待检测区域上的位置。本发明通过在传统的磁致伸缩导波的检测装置中引入了信号增强元件，实现缺陷多次回波信号幅值增强，达到提高导波检测灵敏度的目的，同时不需对现有装置进行复杂的改造，即可实现无盲区的缺陷检测。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人武新军;从明;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510448223.9
- 申请时间2015年07月27日
- 申请公布号CN104990984A
- 申请公布时间2015年10月21日
- 分类号G01N29/22(2006.01)I;G01N29/32(2006.01)I;G01N29/07(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
