摘要：本发明提供一种半导体激光器离线测试方法，各待测试半导体激光器与各测试装置一一对应安装在测试平台上，所述各测试装置中分别包含电源模块，以对各测试装置供电，各测试装置通过数据总线与控制主机电连接，该方法包括：测试装置接收控制主机发送的包括各待测试参数的测试指令；测试装置断开与控制主机间的电连接，并控制分别与各待测试参数对应的传感器对待测试半导体激光器的各待测试参数分别进行参数数据采集；测试装置对采集到的参数数据进行数据处理，并存储处理结果；测试装置测试完成后断开与半导体激光器的连接，并将处理结果发送给控制主机，以实现对各半导体激光器工作参数的离线测试。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京光电技术研究所;
- 发明人张丽雯;陆耀东;王涛;任奕奕;宋金鹏;张玉莹;
- 地址100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号
- 申请号CN201510251356.7
- 申请时间2015年05月15日
- 申请公布号CN104880659A
- 申请公布时间2015年09月02日
- 分类号G01R31/26(2014.01)I;G01M11/00(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
