摘要：本发明公开了一种表征非晶合金微观结构的方法。该方法采用电子显微学三维重构技术，依次包括样品制备、不同角度下透射电镜图像的观测记录以及由系列二维图像合成三维图像的步骤，表征出了非晶合金的微观结构特征。该技术具有难度低、成本低、重复性强、技术可靠且获得三维结构信息等特点。在此表征技术基础上，通过优化快速凝固技术工艺参数，调控了微观结构，可获得优良软磁性能和力学性能的非晶合金。
- 专利类型发明专利
- 申请人安泰科技股份有限公司;
- 发明人周少雄;王岩国;董帮少;向睿;张广强;李宗臻;高慧;
- 地址100081 北京市海淀区学院南路76号
- 申请号CN201510219105.0
- 申请时间2015年04月30日
- 申请公布号CN104865282A
- 申请公布时间2015年08月26日
- 分类号G01N23/22(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
