摘要：本发明公开了一种三角波激励磁场下磁性纳米粒子粒径分布测量系统及方法，属于纳米测试技术领域。本发明在准确测量三角波激励磁场和磁性纳米粒子磁化强度信号的基础上，得到磁性纳米粒子的磁化曲线。再将磁化曲线在Matlab最优化工具箱中进行拟合，最终得到磁性纳米粒子的粒径分布。磁性纳米粒子的磁化曲线可以在实验装置上获取，不需要借助其他外部磁场测量设备,测量成本低。利用全局搜索等优化算法可以从磁化曲线中准确地提取出粒径分布，不需要借助磁性纳米粒子的其他特性，测量过程快速简易。本发明的测量方法不仅对单一粒径分布的磁性纳米粒子适用，对存在二聚体的磁性纳米粒子也同样适用。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人蒋玲;刘文中;马利;程文祥;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510197371.8
- 申请时间2015年04月24日
- 申请公布号CN104865170A
- 申请公布时间2015年08月26日
- 分类号G01N15/02(2006.01)I;
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