摘要：本发明公开了一种光源分布自参照的折光计，属于光电技术与光学仪器领域，包括用于产生发散光束的光源照明系统、光学传感头、反射光能量收集系统以及图像采集分析系统，光学传感头包括参照模块和棱镜，参照模块贴合在所述棱镜的底面，工作时发散光束入射进入棱镜后形成的光斑被分成位于参照模块的第一部分光束和位于参照模块外的第二部分光束，第一部分光束发生全反射，第二部分光束中有部分光线发生反射并部分光线发生折射，第一部分光束用于光源分布自参照，第二部分光束用于测量待测液体的参数。本发明方法解决了折光计中参照光的获取过程复杂繁琐、非实时采集等技术问题。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人郭文平;虞健;叶骏伟;杨克成;夏珉;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510157779.2
- 申请时间2015年04月04日
- 申请公布号CN104792732A
- 申请公布时间2015年07月22日
- 分类号G01N21/43(2006.01)I;
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