摘要：本发明公开了一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置，该装置包括磁敏感元件部分，磁感应部分以及磁轭式局部微磁化部分，磁敏感元件部分包括磁敏感元件、引线端、磁引导芯和引导芯套筒，磁引导芯下端采用圆锥形的结构细化检测区域，实现点型缺陷的高分辨率检测；磁感应部分由绕制在引导芯套筒外侧的磁感应线圈组成；由引导芯套筒支撑固定的磁轭式局部微磁化部分，包括环形导磁构件、磁铁连接件、磁轭式双磁铁以及斜向双导磁构件，该部分将磁场量导入待检测金属体内，达到局部微磁化的效果，通过与磁引导芯连接的磁敏感元件或引导芯套筒外的磁感应线圈，传递金属零件表面点型缺陷漏磁场量信号，实现对高精金属零件表/界面形性的检测。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;中国船舶重工集团公司第七〇二研究所;
- 发明人孙燕华;刘世伟;冯搏;顾民;刘长德;康宜华;陈少波;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510216385.X
- 申请时间2015年04月29日
- 申请公布号CN104777216A
- 申请公布时间2015年07月15日
- 分类号G01N27/82(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
