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    一种自校准的折光计

      摘要:本发明公开了一种自校准的折光计,属于测量与光电仪器领域,包括用于产生发散光束的光源照明系统、光学传感头、反射光能量收集系统以及图像采集分析系统,光学传感头包括校准玻璃平板和棱镜,校准玻璃平板贴合在所述棱镜的底面,工作时,发散光束入射进入棱镜后形成的椭圆光斑被分成位于校准玻璃平板上的第一部分光束和位于校准玻璃平板外的第二部分光束,第一部分光束和第二部分光束中均有部分光线发生全反射并部分光线发生折射,第一部分光束用于进行自校准,第二部分光束用于测量待测液体的参数。本发明解决了普通折光计在使用过程中的零点漂移的技术问题,提高了测量仪器的精确度。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人华中科技大学;
    • 发明人郭文平;虞健;杨克成;夏珉;
    • 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
    • 申请号CN201510160680.8
    • 申请时间2015年04月04日
    • 申请公布号CN104777133A
    • 申请公布时间2015年07月15日
    • 分类号G01N21/43(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;