摘要：本发明公开了一种极高分辨率光谱测量装置及方法，光谱测量装置包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块；FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号，FP干涉仪的第二输入端连接至控制模块的第一输出端；SBS滤波器的第一输入端连接至FP干涉仪的输出端，所述SBS滤波器的第二输入端连接至控制模块的第二输出端，探测器的输入端连接至SBS滤波器的第一输出端，数据采集模块的第一输入端连接至探测器的输出端，数据采集模块的第二输入端连接至SBS滤波器的第二输出端，控制模块的输入输出端连接至数据采集模块的输出输入端。本发明可以提高光谱测量分辨率的同时获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人柯昌剑;谭芷莹;罗志祥;刘德明;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201510107118.9
- 申请时间2015年03月11日
- 申请公布号CN104697634B
- 申请公布时间2017年03月15日
- 分类号G01J3/45(2006.01)I;
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