摘要：本发明涉及一种通过半导体分立器件特性曲线跟踪仪器。半导体分立器件特性曲线跟踪装置，由上位机、测试主机、扩展台、治具四部分组成，所述测试主机里包含下位机、机械手/探针台驱动模块、总线转换模块、数据总线模块、AD/DA转换模块、功率放大器、继电器阵列，所述的下位机里装有自检、自校准程序，所述的扩展台扩展所述功率放大器，采用16位并行AD/DA转换模块设计，测试速度快，精度高；采用下位机控制，实现脱机运行；采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确；完整的自检/自校准能力；采用上位机显示，直观，好操作；可以连接机械手或探针台，效率高；数据存储在PC机里，读写方便。
- 专利类型发明专利
- 申请人西安谊邦电子科技有限公司;
- 发明人李耀武;
- 地址710075 陕西省西安市雁塔区太白南路191号崇立金世园第1幢012902室
- 申请号CN201310585083.0
- 申请时间2013年11月20日
- 申请公布号CN104655998A
- 申请公布时间2015年05月27日
- 分类号G01R31/26(2014.01)I;
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京公网安备11010802043465号
