摘要：一种样品不经过质量流量计进样的间接计量方法及装置。主要解决现有的进样器在分析痕量杂质时质量流量计内壁易吸附痕量杂质而使分析周期过长、质量流量计毛细管堵塞而无法计量的问题。其特征在于：将质量流量计接在放空通路上，进样时，先走放空通路，控制流量调节阀将流速设定在某一固定值，计量流速μ0；切换到进样状态，记录起始时间T0，进样结束后切换到放空状态，记录结束时间T1，计量流速μ1；计算进样体积V=(T1-T0)*(μ1+μ0)/2。该计量方法及装置将质量流量计设置在放空通路上，在质量流量计前端加装过滤器，避免系统堵塞，并且可以准确的计量进样体积。
- 专利类型发明专利
- 申请人大庆市日上仪器制造有限公司;
- 发明人段景峰;胡志容;曹艳辉;孙向东;韩笑;
- 地址163316 黑龙江省大庆市高新技术开发区产业三区禾丰路22号
- 申请号CN201410631666.7
- 申请时间2014年11月11日
- 申请公布号CN104374444A
- 申请公布时间2015年02月25日
- 分类号G01F22/00(2006.01)I;G01N35/10(2006.01)I;
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