摘要：本发明属于原子发射光谱的定量分析领域，特别涉及一种火花源原子发射光谱分析中谱线干扰的校正方法。该校正方法中，待测试样品中包括待测试元素X、干扰元素Ai和Mj；本方法通过对干扰元素Ai和Mj的干扰谱线和干扰规律的研究，扣除干扰元素的影响，对分析谱线进行自动校正。本发明用于解决光谱分析过程中因不同元素之间相互干扰导致的定量分析结果不准确的问题，适用于火花或类火花源原子发射光谱。采用本发明不必增加任何装置，不增加分析成本和时间；特别适用于快速且准确的分析任务。
- 专利类型发明专利
- 申请人钢研纳克检测技术有限公司;
- 发明人刘佳;冯光;袁良经;贾云海;
- 地址100081 北京市海淀区高粱桥斜街13号
- 申请号CN201410638489.5
- 申请时间2014年11月06日
- 申请公布号CN104316511A
- 申请公布时间2015年01月28日
- 分类号G01N21/67(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
