摘要：本发明提供一种半导体激光器测试装置、系统和方法，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京光电技术研究所;
- 发明人张丽雯;陆耀东;高和平;任奕奕;宋金鹏;
- 地址100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号
- 申请号CN201410354468.0
- 申请时间2014年07月23日
- 申请公布号CN104237762A
- 申请公布时间2014年12月24日
- 分类号G01R31/26(2014.01)I;G01R31/00(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
