摘要：本发明提供了一种内封测量光纤的超导带材，包括上保护层、下保护层、超导带层以及测量光纤，所述超导带层和测量光纤封装在上保护层和下保护层之间，所述测量光纤沿长度方向设置。所述测量光纤采用若干长光纤连续地封装在上保护层和下保护层之间，或，多根短光纤间断地封装在上保护层和下保护层之间。同时还提供了上述超导带材的制备方法和制备装置，本发明可以对超导线圈内部所有位置的温度进行实时测量，无论局部失超的发生在何处，都可以及时发现；大大简化了超导线圈的绕制工艺，提高线圈了紧密性和光滑性，这对那些对磁场均匀度要求很高的高性能磁体意义非凡，极大地提高设备性能。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海超导科技股份有限公司;
- 发明人洪智勇;王亚伟;
- 地址201210 上海市虹口区芳春路400号1幢3层301-15室
- 申请号CN201410375117.8
- 申请时间2014年07月31日
- 申请公布号CN104157366A
- 申请公布时间2014年11月19日
- 分类号H01B12/00(2006.01)I;G01K11/32(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
