摘要：本发明涉及列驱动芯片的测试方法及系统，包括：a.测试被测列片的各电压端口之间的阻抗，均为开路则进行后续步骤；否则该列片为不良品终止后续测试；b.将被测列片插入显示屏模组上寻址电极驱动板的插座，并接通各路电源。通过显示屏模组上测试板测量被测列片的六个输出测试点的电平是否为低，若是则进行后续步骤；否则为不良品，可终止后续测试。c.在测试板上将芯片使能端口和低输出控制端口接逻辑电源，高压输出控制端口接逻辑地，测量被测列片的六个输出测试点的电平是否为高，若是则进行后续步骤；否则该列片为不良品，可终止后续测试。本发明能够通过方便、灵活地对控制信号进行调整的方式，充分满足了列片各方面性能参数的测试需要。
- 专利类型发明专利
- 申请人四川长虹电器股份有限公司;
- 发明人李珣;
- 地址621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号
- 申请号CN201410218813.8
- 申请时间2014年05月22日
- 申请公布号CN104091554A
- 申请公布时间2014年10月08日
- 分类号G09G3/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
