摘要：一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪，包括激光光源装置、样品测试窗口（3）、散射信号接收装置（4）及与之电连接的信号处理系统（5），激光光源装置包括第一激光器（1）和第二激光器（2）；散射信号接收装置是由（14）组光电探测器按照一定的规律排列，可以接收来自样品测试窗口中心固定角度的散射信号，该系统可以将来自样品测试窗口中心15°~130°的散射信号完整的接收并传输至计算机，计算机根据MIE散射理论可以计算出量程在0.05μm~1μm范围内所测样品的粒度分布图。
- 专利类型发明专利
- 申请人济南微纳颗粒仪器股份有限公司;
- 发明人任中京;于代军;
- 地址250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元
- 申请号CN201410325383.X
- 申请时间2014年07月09日
- 申请公布号CN104075966B
- 申请公布时间2016年07月06日
- 分类号G01N15/02(2006.01)I;
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