摘要：本发明公开了一种密封圈老化测试装置，其包括收容座、温度探头及温度计。收容座包括本体和盖体，密封圈放置于本体的内表面，盖体安装于本体上并遮盖密封圈。温度探头安装在盖体的内表面，温度计用于量测收容座内部的温度。其中，测试时，将收容座放入高温箱，温度计放在高温箱外，温度探头将探测到的收容座内部的温度传给温度计，使收容座内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对密封圈进行老化测试。本发明提供的密封圈老化测试装置，通过将密封圈放入收容座内部，且通过温度探头探测收容座内部的温度并传给温度计，从而可以保证收容座内部的温度达到预定温度，进而保证了密封圈老化测试的准确性。
- 专利类型发明专利
- 申请人深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司;
- 发明人周明杰;汪辉;
- 地址518000 广东省深圳市南山区东滨路84号华业公司主厂房二层北侧
- 申请号CN201310081055.5
- 申请时间2013年03月14日
- 申请公布号CN104048907A
- 申请公布时间2014年09月17日
- 分类号G01N17/00(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
