摘要：本发明公开了一种上照式X荧光光谱仪及其控制方法。该上照式X荧光光谱仪包括光管安装单元、探测器单元、准直器、高压组件单元、可移动样品平台、氦气充气单元、控制单元与通道校正单元；通道校正单元包括复合校正片，可移动样品平台在光管和准直器的下方水平设置。测试时，先通过通道校正单元校正，然后启动高压组件单元，激发光管产生X射线穿过准直器，以90°入射角度照射到样品表面，产生的X荧光信号被探测器接收。本发明属于上照式，可避免X射线激发样品产生的散射荧光对光路的污染，同时提高X射线的穿透能力，还可实现X射线备压控制及光谱仪自动校正，且精度高、速度快、稳定性好、实时性强、计算量小、通用性强。
- 专利类型发明专利
- 申请人苏州三值精密仪器有限公司;
- 发明人杨振;杨剑;
- 地址215000 江苏省苏州市吴中区金枫南路1258号B1幢
- 申请号CN201410135825.4
- 申请时间2014年04月04日
- 申请公布号CN104020184B
- 申请公布时间2017年03月01日
- 分类号G01N23/223(2006.01)I;
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