摘要：本发明涉及图像检测技术领域，特别涉及一种TFT-LCD点灯自动光学检测的图像处理方法。该图像处理方法，包括：采集显示屏处于不同模式下的图像；对采集到的图像进行预处理，去除背景干扰；对预处理过的图像进行掩膜处理；缺陷提取计算。本发明实施例提供的TFT-LCD点灯自动光学检测的图像处理方法应用自动光学检测多个模式，能将点、线、Mura缺陷正常检测，且可将亮点、亮线缺陷精确定位到一个亚像素、Mura缺陷按照SEMU准则分类。该图像处理流程简便，可有效确保检出率。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京兆维电子（集团）有限责任公司;
- 发明人王新新;李晨;徐江伟;
- 地址100015 北京市朝阳区酒仙桥路14号
- 申请号CN201310005039.8
- 申请时间2013年01月07日
- 申请公布号CN103913461A
- 申请公布时间2014年07月09日
- 分类号G01N21/88(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
