摘要：本发明公开了一种高精度光纤光学频率梳的测控方法及装置，用于监测和控制光纤光梳的每个环节工作状态，提高光纤光梳的长期稳定性、运转可靠性和产品的可复制性。其装置通过对光纤激光振荡器及各级光纤放大器输出脉冲载波-包络相位的监测，观察和控制功率放大过程激光相位噪声的传递和涨落，将主放大器的载波-包络相位输出信号，负反馈到激光振荡器中的载波-包络相位控制单元，即电控偏振控制器调制脉冲偏振演化进程或者调制激光振荡器的泵浦光强度，实现对载波-包络相位的稳定控制。本发明能即时监控振荡器和各级放大器的工作状态，监测指标实时、全面，并提供了稳定可靠的反馈机制。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海朗研光电科技有限公司;
- 发明人郝强;张青山;郭政儒;曾和平;
- 地址200237 上海市闵行区春申路1985弄69号2319室1区
- 申请号CN201410132665.8
- 申请时间2014年04月03日
- 申请公布号CN103904546B
- 申请公布时间2016年08月17日
- 分类号H01S3/10(2006.01)I;H01S3/13(2006.01)I;H01S3/137(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
