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    一种高精度的角度测量装置

      摘要:本发明涉及一种高精度的角度测量装置,它适用于地质测斜仪器的校正台,能大幅度提高校正台的倾斜角和方位角的测量精度。本装置是由两个直径大小一致主、副刻度圆环,一个水平仪工作台组成(附图),主刻度环通过水平转动轴与水平仪工作台连接,水平转动轴两端分别装有转动轴轮。副刻度圆环固定在水平转动轴上,可随转动轴转动。主、副刻度圆环上刻有高精度的分刻度,通过主、副刻度环的相对移动和刻度读数,可高精度地进行角度测量,测量精度可达到0.02°以上。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人上海昌吉地质仪器有限公司;
    • 发明人沈幼文;吴熙元;
    • 地址201814 上海市嘉定区安亭工业园区泰云路528号
    • 申请号CN201210531768.2
    • 申请时间2012年12月11日
    • 申请公布号CN103868497A
    • 申请公布时间2014年06月18日
    • 分类号G01C9/24(2006.01)I;G01C9/36(2006.01)I;