摘要：本发明提出了一种基于递推法的高光物体表面相位快速恢复方法。不同于以往把N张光栅图片中有效灰度值和无效灰度值直接代入相位求解公式，该方法直接使用像素点处有效灰度值，通过递推法还原饱和灰度值的实际值，进而恢复高光物体表面高精度的相位值。该方法步骤简单、鲁棒性强，随机误差抑制性好，不需要调整CCD相机光圈、曝光时间，不需要对高光物体表面进行处理，省时快捷，能够保证高光物体表面的测量精度，测量准确性高。
- 专利类型发明专利
- 申请人西北工业大学;
- 发明人聂寇准;常智勇;卢津;江奔;孙博洋;
- 地址710072 陕西省西安市友谊西路127号
- 申请号CN201410125761.X
- 申请时间2014年03月31日
- 申请公布号CN103868473A
- 申请公布时间2014年06月18日
- 分类号G01B11/25(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
