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    一种X荧光仪熔融制样方法

      摘要:本发明公开一种X荧光仪熔融制样方法,包括将固体样品研磨至不低于200目的粉末后备用;将坩埚、搅拌器、药匙均用酒精擦拭干净,置于烘箱中干燥大于30min后,取出置于托盘上;将模具内壁用酒精擦拭干净,自然风干后备用;称取一定质量的PE材料于坩埚中,加热直至熔剂完全融化;称取S1中一定质量的样品粉末置于S4中的坩埚内,打开搅拌器,一边加热一边搅拌,30min后停止搅拌和加热;药匙取S5中坩埚内上层的熔体于S3中的模具中,熔体至模具高度约三分之二处,自然冷却至完全凝固后,获取样片。该方法将硼酸盐熔剂替换为PE材料,制作出的样片不易破损、爆裂、污染,易于脱模,样片易于保存,有效缩短了制样时间,极大的降低了制样成本。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人南京大展机电技术研究所;
    • 发明人刘静;周恒;陶银武;
    • 地址211102 江苏省南京市江宁区清水亭西路2号百家湖科技产业园16幢-2
    • 申请号CN201410103473.4
    • 申请时间2014年03月20日
    • 申请公布号CN103808559A
    • 申请公布时间2014年05月21日
    • 分类号G01N1/44(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I;