• 首页
  • 装备资讯
  • 热点专题
  • 人物访谈
  • 政府采购
  • 产品库
  • 求购库
  • 企业库
  • 品牌排行
  • 院校库
  • 案例·技术
  • 会展信息
  • 教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN103745253A

    基于双芯片电子标签的加密校验方法

      摘要:本发明提出一种基于双芯片电子标签的加密校验方法,它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片,在A芯片中的EPC区任取a位字符,在B芯片的EPC区任取8-a位字符组成8位字符的密码,并将该密码存入加密区,将A芯片的TID存入到B芯片的用户区,将B芯片的TID存入到A芯片的用户区,作为校验依据,校验时,读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较,而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较,如果有一个不相同,则校验失败,不进入输入密码的步骤,如果两个都相同,则可以输入密码。采用这种方法加密等级非常高,理论上密码是不会被破解。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人宁波立芯射频股份有限公司;
    • 发明人司海涛;高博;
    • 地址315000 浙江省宁波市鄞州区启明路818号20幢133号
    • 申请号CN201310717833.5
    • 申请时间2013年12月23日
    • 申请公布号CN103745253A
    • 申请公布时间2014年04月23日
    • 分类号G06K19/073(2006.01)I;