摘要：本发明提供一种芯片故障定位方法、装置及系统。本发明芯片故障定位方法，包括：在调试模式下获取调试指令并执行；在测试模式下获取扫描链模式指令；根据所述扫描链模式指令控制芯片的触发器形成扫描链；在所述测试模式下获取测试数据；将所述测试数据输入扫描链中，依次移出所述扫描链中触发器的值；根据移出的触发器的值定位芯片故障位置。本发明提高了故障定位的效率以及准确度。
- 专利类型发明专利
- 申请人龙芯中科技术有限公司;
- 发明人陈华军;齐子初;
- 地址100190 北京市海淀区中关村科学院南路10号
- 申请号CN201310717666.4
- 申请时间2013年12月23日
- 申请公布号CN103675641A
- 申请公布时间2014年03月26日
- 分类号G01R31/26(2014.01)I;
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京公网安备11010802043465号
