摘要：本发明公开了基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪及其方法，其设计了一种新型的分光测色仪，所述分光测色仪包括：光阱、光源、积分球、第一拨片、第一拨片控制装置、光谱仪、第二拨片、第二拨片控制装置和用于进行数据处理的处理装置；通过第一拨片控制装置控制第一拨片关闭或打开积分球上部开孔，实现了SCI和SCE两种测量条件，并通过第二拨片控制装置控制第二拨片打开或关闭积分球下部开孔，从而用标准白板的测试数据对不同被测样品的测量数据进行校正，消除了由于光源强度波动对测量带来的影响，增强了测量重复性;通过对样品表面SCI和SCE数据进行同时测量获得样品表面的光泽数据，根据预先建立的样品表面光泽数据对SCI测量数据进行修正的矫正模型，对SCI测量数据进行修正，有效减小了误差。
- 专利类型发明专利
- 申请人杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院;
- 发明人袁琨;陈刚;王坚;
- 地址310018 浙江省杭州市下沙高教园学源街258号科技楼709
- 申请号CN201310511357.1
- 申请时间2013年10月24日
- 申请公布号CN103542938A
- 申请公布时间2014年01月29日
- 分类号G01J3/46(2006.01)I;
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