摘要：本发明公开了一种折射率测量装置，包括：单色角点光源照明模块，用于产生进行测量的两束光束；参考光路模块，其中一束作为参考光入射到该参考光路模块中，经全反射后出射带有原始光场信息的参考信息光；探测模块，其与待测物接触形成介质面，另一束光束作为探测光入射到探测模块并经介质面反射后出射耦合有待测物质折射率信息的探测信息光；反射光能量收集模块，分别接收参考信息光和探测信息光，并转换为电信号；以及图像处理模块，其对两路图像进行比较，得到相对反射率分布，可提取出待测物质的折射率信息。本发明还公开了一种折射率测量方法。本发明的装置和方法具有测量范围大、可普遍适用于气体、液体以及玻璃材料等物质的折射率测量。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人杨克成;叶骏伟;夏珉;李微;郭文平;刘昊;阮丛喆;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201310375467.X
- 申请时间2013年08月26日
- 申请公布号CN103454247B
- 申请公布时间2016年05月25日
- 分类号G01N21/43(2006.01)I;
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