摘要：本发明提供一种读码卡测试系统及检验方法，该读码卡测试系统包括：主控单元，分别与所述主控单元电性连接的存储单元、电源管理单元、交互单元、及诊断通讯单元。本发明通过主控单元从存储单元调用测试通讯必需的各项参数及诊断协议文件，模拟K总线、L总线以及CAN总线与待测试读码卡通讯，得到待测试读码卡的整机性能参数，从而判断待测试读码卡是否存在故障，如存在故障并给相应的维修指引，操作简单、快捷，并且可以快速准确地测试出待测试读码卡硬件的各项参数，从而准确地判断待测试读码卡的整机性能。
- 专利类型发明专利
- 申请人深圳市元征科技股份有限公司;
- 发明人刘均;姜广卫;
- 地址518000 广东省深圳市龙岗区坂雪岗工业区五和大道北元征工业园
- 申请号CN201310306828.5
- 申请时间2013年07月19日
- 申请公布号CN103425120A
- 申请公布时间2013年12月04日
- 分类号G05B23/02(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
