摘要：本发明提供一种玉米苗期缺苗数的测量方法及装置，涉及农作物信息技术领域。该方法包括步骤S1、获取玉米苗期植株图像，得到图像序列I（I1,I2,...In），n为正整数；S2、将所述图像序列I（I1,I2,...In）中的相邻两幅图像的重复区域进行拼接，得到一幅玉米苗期行向图像IW；S3、对所述玉米苗期行向图像IW进行分割与识别，获取玉米苗期植株茎秆位置，并计算玉米苗期植株茎秆行向直线；S4、根据所述玉米苗期植株的茎秆行向直线识别缺苗位置，并计算缺苗数。本发明所述方法及装置具有较高的自动化程度，能够代替人工方法调查玉米苗期缺苗数量，减少人力投入成本，去除人为误差的干扰。使评价玉米种子的品质、测量播种机具的作业精度指标的获取更加简洁。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京农业信息技术研究中心;
- 发明人王传宇;郭新宇;肖伯祥;杜建军;吴升;
- 地址100097 北京市海淀区曙光花园中路11号农科大厦A座318b
- 申请号CN201310370436.5
- 申请时间2013年08月22日
- 申请公布号CN103413172A
- 申请公布时间2013年11月27日
- 分类号G06M11/00(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
