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    一种单光束双工位大量程激光粒度测量装置

      摘要:单光束双工位大量程激光粒度测量装置,包括一用于发射激光的激光器1,激光器1的后端按照激光光路的前进方向依次设置有扩束镜2、傅里叶透镜4、用于改变激光光路方向的光学组件、光电探测器阵列10,一样品窗6,所述傅里叶透镜4和光学组件之间设有第一工位12,所述光学组件和光电探测器阵列10之间设有第二工位9,所述样品窗6在所述第一工位12和第二工位9之间相对移动。本发明的有益效果为:采用折叠光路,可移动样品窗,实现了对样品的二次测试,扩大了仪器测量范围,光路长度缩短为原长的1/2。大大减小了仪器体积,提高了仪器测量精度,为激光粒度仪的广泛普及提供了一种全新最优化的结构。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人济南微纳颗粒仪器股份有限公司;
    • 发明人任中京;陈栋章;
    • 地址250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元
    • 申请号CN201310343638.0
    • 申请时间2013年08月08日
    • 申请公布号CN103398926B
    • 申请公布时间2017年01月11日
    • 分类号G01N15/02(2006.01)I;