摘要：本发明公开了一种材料反射特性测量装置及方法，包括中空激发源、监测装置和测量装置，中空激发源发出的光线照射到被测样品上，测量装置接收从被测样品反射出的穿过中空激发源空心部分的反射光线，监测装置监测中空激发源发出的光线的光谱信息，通过本发明公开的相应的测量方法，可以测量并计算得到被测样品全面的光谱反射特性。本发明设计巧妙、光路简单，无需光学暗室，即可实现材料回复反射的光度、色度和光谱特性的快速、准确测量，具有功能强大、测量准确度高、体积小、成本低、设计一体化等特点。
- 专利类型发明专利
- 申请人杭州远方光电信息股份有限公司;
- 发明人潘建根;
- 地址310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
- 申请号CN201310321487.9
- 申请时间2013年07月26日
- 申请公布号CN103344613B
- 申请公布时间2016年09月28日
- 分类号G01N21/55(2014.01)I;G01N21/25(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
