摘要：本发明公开了非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法，包括根据天线单元的位置坐标计算非均匀采样点的位置，并获得非均匀采样点的可见度函数的值；根据非均匀采样点的位置将空间频率域分割成多个区域，并计算每个区域的面积；根据每个区域的面积对非均匀采样点的可见度函数的值进行离散卷积运算，获得均匀采样点的可见度函数的值；对均匀采样点的可见度函数的值进行傅里叶逆变换，获得观测空间的中间亮温分布图像；根据中间亮温分布图像和窗函数的傅里叶逆变换的结果获得修正场景亮温图像；根据修正场景亮温图像和观测场景亮温的倾斜因子的倒数获得观测场景亮温图像。本发明能快速，高效，精确地反演非均匀采样综合孔径辐射计的场景亮温分布图像。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人李青侠;丰励;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201310176506.3
- 申请时间2013年05月13日
- 申请公布号CN103323845B
- 申请公布时间2015年04月15日
- 分类号G01S13/90(2006.01)I;
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