摘要：本发明提供了一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，包括步骤一：上位机设置激发参数信息；步骤二：下位机采集CCD数据，并对数据进行累加和计算平均值；步骤三：下位机将计算出的累加值与平均值传输至上位机；步骤四：上位机再次设置激发参数信息；步骤五：上位机设置P、S的位置信息；步骤六：下位机采集并存储CCD数据；步骤七：下位机将P、S的光谱数据传输至上位机；步骤八：上位机通过对步骤六传输的数据进行处理计算，得出元素含量；本发明一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，解决了下位机存储容量和数据处理能力不足无法实现CCD光谱数据异常筛选的问题，有效提高了CCD直读光谱测量P、S的数据稳定性，对于含量从0.1％～0.6％的P、S数据稳定性从原来的RSD为5％提升到1％。
- 专利类型发明专利
- 申请人无锡创想分析仪器有限公司;
- 发明人顾德安;
- 地址江苏省无锡市北塘区新惠路12号9号楼
- 申请号CN201310182693.6
- 申请时间2013年05月17日
- 申请公布号CN103308490A
- 申请公布时间2013年09月18日
- 分类号G01N21/63(2006.01)I;
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