摘要：本发明涉及一种适合于X荧光多元素分析仪测量的密封膜片渗漏测量装置及方法。该装置采用双层膜片对探测腔体内部空间进行密封保护，并在内膜片与外膜片之间用安装有用绝缘圈间隔开的二块铜板，利用二极管的反向截止和水的导电性，来判断外铜板与内铜板之间是否因接触到矿浆而形成导通，进而判断外膜片4的密封是否发生渗漏。一旦检测到外膜片渗漏或线路连接故障，可通过继电器发出报警信号，使仪器启动保护措施。
- 专利类型发明专利
- 申请人丹东东方测控技术股份有限公司;
- 发明人张伟;佟超;于海明;龚亚林;尹兆余;陈树军;周洪军;金鑫;李剑锋;王政;梁宏伟;夏远恒;曲宝剑;温晓光;刘家勇;毕然;
- 地址118002 辽宁省丹东市沿江开发区滨江中路136号
- 申请号CN201310026786.X
- 申请时间2013年01月24日
- 申请公布号CN103148996B
- 申请公布时间2015年03月04日
- 分类号G01M3/16(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
