摘要：本发明属于电离辐射计量技术，具体涉及一种过滤X射线参考辐射的能谱分析方法。本发明用HPGe能谱仪测量低空气比释动能率和窄谱两个系列的过滤X射线参考辐射，探索出使用反卷能谱法对测量谱进行了能谱分析的方法，得到了参考辐射场的注量谱和各特征值，并与国标中给出的参考谱和各特征值的推荐值进行了比较，两者符合的较好，验证了已建立的X射线参考辐射的准确性和可靠性。
- 专利类型发明专利
- 申请人中国辐射防护研究院;
- 发明人牛强;张庆利;金成赫;韦应靖;黄亚雯;
- 地址030006 山西省太原市学府街102号
- 申请号CN201110393393.3
- 申请时间2011年12月01日
- 申请公布号CN103135125A
- 申请公布时间2013年06月05日
- 分类号G01T1/36(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
