摘要：本发明公开了一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法，方法是将起偏臂产生的调制光线投射到待测样件表面，检偏臂将待测样件反射(或透射)的光线解调并接收，通过对测量光谱进行谐波分析，计算获得待测样件的全穆勒矩阵信息，并通过非线性回归，库匹配等算法拟合提取待测样件的光学常数，特征形貌尺寸等信息。椭偏仪包括起偏臂(包括光源，透镜组，起偏器和伺服电机驱动的补偿器)，待测样件和检偏臂(包括伺服电机驱动的补偿器，检偏器，透镜组和光谱仪)。本发明可实现各种信息光电子功能材料和器件，以及纳米制造中各种纳米结构的在线测量，具有非破坏性，快速和低成本的特点。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人刘世元;李伟奇;张传维;陈修国;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201310040729.7
- 申请时间2013年01月31日
- 申请公布号CN103134592B
- 申请公布时间2015年11月04日
- 分类号G01J3/447(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
